X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層，適合用于確定產品質量的電子產品、連接器、裝飾品和珠寶分析。

X-Strata920 的優(yōu)勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進行選擇，包括五種基本配置以適應不同尺寸的樣品、六種準直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產或質量保證部門。

最大化精度，最小化浪費

當決定產品成敗的差異小于1微米時，請選擇X-Strata920進行精確鍍層分析

如果您在電子產品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。

我們的內部專家會對常規(guī)和復雜鍍層結構進行測試及測量，確保您獲得可靠、可重復結果以滿足數百種應用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基臺配置以適應任意形狀的零件。帶有標準或寬固定基臺的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺，可自動測量多個樣品或單個組件上的各個位置。

為工作選擇正確的工具

通過選擇比例計數器或硅漂移探測器（SDD），可確保擁有正確配置。

比例計數器適用于大多數應用場合，但對于含有少量種類元素的簡單鍍層結構而言，其效果最佳。當您需要分析更復雜的鍍層結構或需要測量非常薄的鍍層（<0.05μm）時，推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時通過避免過度電鍍造成的化學品浪費和減少電鍍不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即

可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個任務。

這意味著您可確保在操作中最大限度地提高生產力。得益于通過可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結果的準確性充滿信心。

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標準，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

產品亮點

X-Strata920 具有多種選項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應性設計，可對各種產品進行可靠分析

• 自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度

• 直觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數據變得容易

• 多準直器設計為每個樣品提供高準確性

• 選擇適合應用的比例計數器或硅漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內提供結果

• 強大的光學分析單層和多層鍍層，包括合金層