X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層，適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析。

X-Strata920 的優(yōu)勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進(jìn)行選擇，包括五種基本配置以適應(yīng)不同尺寸的樣品、六種準(zhǔn)直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過程同時(shí)保持準(zhǔn)確性的附加自動(dòng)化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門。

最大化精度，最小化浪費(fèi)

當(dāng)決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時(shí)，請選擇X-Strata920進(jìn)行精確鍍層分析

如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。

我們的內(nèi)部專家會(huì)對常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試及測量，確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基臺配置以適應(yīng)任意形狀的零件。帶有標(biāo)準(zhǔn)或?qū)捁潭ɑ_的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺，可自動(dòng)測量多個(gè)樣品或單個(gè)組件上的各個(gè)位置。

為工作選擇正確的工具

通過選擇比例計(jì)數(shù)器或硅漂移探測器（SDD），可確保擁有正確配置。

比例計(jì)數(shù)器適用于大多數(shù)應(yīng)用場合，但對于含有少量種類元素的簡單鍍層結(jié)構(gòu)而言，其效果最佳。當(dāng)您需要分析更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測量非常薄的鍍層（<0.05μm）時(shí)，推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時(shí)通過避免過度電鍍造成的化學(xué)品浪費(fèi)和減少電鍍不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點(diǎn)對齊，即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即

可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。

這意味著您可確保在操作中最大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式，您將對結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

X-Strata920 具有多種選項(xiàng)和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應(yīng)性設(shè)計(jì)，可對各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析

• 自動(dòng)對焦和可選的程控臺提高了準(zhǔn)確性和速度

• 直觀的 SmartLink 軟件使測量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易

• 多準(zhǔn)直器設(shè)計(jì)為每個(gè)樣品提供高準(zhǔn)確性

• 選擇適合應(yīng)用的比例計(jì)數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果

• 強(qiáng)大的光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層