直讀光譜儀LAB S – 高端金屬分析真正意義上的革命
20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果(例如:低合金鋼)
定期維護(hù)的工作量(火花臺(tái)清洗)減少8倍
元素在低合金鋼中平均檢測(cè)限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測(cè)限改善5倍
儀器的占地面積減少27%
單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間
作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的創(chuàng)造者,40多年來(lái),全心投入開(kāi)發(fā)出世界全新的發(fā)射光譜儀。今天,完善引入CMOS探測(cè)器技術(shù),徹底改變了高端電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來(lái)。在所有同類(lèi)分析儀中,LAB
S所提供分析速度超出想象,元素檢測(cè)限低至極限,同時(shí)她也可以提供很長(zhǎng)的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性
LAB S 擁有世界上第一個(gè)基于CMOS的探測(cè)器的記錄系統(tǒng),該系統(tǒng)非常適合于中高端金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用,它提供了快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。
樣品的分析速度是儀器性能的重要標(biāo)志,LAB S的推出完全滿(mǎn)足了金屬分析市場(chǎng)對(duì)速度的需求。例如:當(dāng)檢測(cè)低合金鋼時(shí),它可以在20秒或更短的時(shí)間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測(cè)量值!
從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看,S均是目前金屬冶煉廠選擇的、高性能的光譜儀。對(duì)于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車(chē)和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來(lái)說(shuō),她給出的解決方案同樣優(yōu)良。