推動冶金礦山發(fā)展，X射線熒光光譜儀改善礦山環(huán)境狀況

返回列表 來源：儀德發(fā)布日期： 2021.12.09

國家新基建政策以來，不斷推動冶金礦山發(fā)展。而對于冶金礦山的發(fā)展來說，具備良好的分析技術十分重要，擁有分析技術合理性和科學性，生產出優(yōu)質原料。當前，X熒光分析方法在環(huán)境分析中也作為一種重要的分析手段存在。因此，在礦山的污染治理中，X射線熒光光譜儀將會促進礦山環(huán)境狀況的改善，在保證環(huán)境不被污染的情況下，充分利用X射線熒光光譜儀實現對礦山的推動發(fā)展。

手持式X射線熒光光譜儀

適合現場環(huán)境分析的光譜儀
——手持式X射線熒光光譜儀SPECTRO xSORT

近年來科學的迅速發(fā)展，使得我國逐漸出現了眾多精密的分析測試儀器。其中一種便是手持式X射線熒光光譜儀。

其特點表現在以下幾點:
(1)良好的PPM級精度檢測。延長檢測時間甚至可以對砷，鎘，銅，鉛，汞及所選擇的污染進行PPM級精確的分析。

(2)高速的“熱點”檢測。SPECTRO xSORT光譜儀顯示結果的速度是同類儀器的兩倍！在幾秒內即可獲得精確的初步測量結果。即使對于原來需要幾天時間才能完成的較大的面積區(qū)域的環(huán)境評估或大量的廢料篩選也只需幾小時就可完成。

(3)無需復雜的樣品制備。對復雜基體的環(huán)境類樣本提供快速直接的元素測量和光譜化學成分分析。

具體應用

X射線熒光光譜儀很早便在我國冶金工業(yè)中廣泛應用。黑色冶金礦山通常是表示錳礦、釩鈦磁鐵礦、鉻鐵礦、鐵礦，依照其要求，不僅需要對鐵、鉻、鈦、錳元素進行分析，同時也需要分析鈣、鎂、鋁等元素。且這些元素都可以采用X熒光儀進行分析，我們將采用X熒光儀測定和采用化學法進行測定所得的結果進行比較，分析的資料見表1。

表1 幾種礦石分析結果比較

分析表1我們能夠看出，兩種測定方法相比較，X射線熒光光譜儀測定值大多數的誤差都在規(guī)定的范圍內。一般情況下，化學法分析的精確度較高，但是操作的時間卻過長，對環(huán)境產生的危害也十分嚴重。而X射線熒光光譜儀應則避免了這種缺點，比如在測定全鐵時，整個過程僅需要短時間便能夠完成，且不使用任何添加劑。同時，X熒光和化學法比較，選礦精礦的絕對誤差低于0.5%，尾礦低于0.3%，采場原礦低于0.5%。均滿足實驗室抽查誤差范圍內的要求。