在
波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實驗配套方案。其中,在涂層方面的檢測也有很好的應(yīng)用,如涂料紙上的涂料中有線狀異物,用CCD定點分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置,指定樣品表面任意位置,進(jìn)行定性或定量分析,這是
X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外,在此介紹如何使用樣品臺驅(qū)動裝置對檢測出的組成成分進(jìn)行元素分布分析。
波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點分析示例
操作部分
一、分析儀器
二、樣品制備 將涂層樣品直接放入專用托架待測。
三、測試條件
四、測試結(jié)果 儀器內(nèi)置CCD相機(jī)拍攝的樣品表面圖象如下圖所示。根據(jù)圖象,可以確認(rèn)在中央部位有線狀異物混雜在涂層中。
CCD合成圖象
首先指定線狀異物部分,空白的涂層部分及涂料紙,將分析面積設(shè)定在1mm范圍內(nèi)進(jìn)行定性分析。由Cu-K可見很大的差別。然后,可確認(rèn)涂層的成分是Ti和Fe,涂料紙的成分是Al,Si和Ca。
異物部分(蘭色)和涂層部分(紅色)的定性圖表
根據(jù)定性分析結(jié)果得到的成分組成進(jìn)行元素分布分析。由于進(jìn)行元素分布分析時使用樣品臺驅(qū)動裝置,所以樣品可以直接移動到分析點,能夠不改變與分辨率有關(guān)的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行穩(wěn)定的測試。根據(jù)元素分布分析結(jié)果推斷,樣品中混有銅絲。
根據(jù)各部分代表成分的元素分布圖象
五、總結(jié) 日本理學(xué)波長色散型X射線熒光分析法和電子分析法不同,譜峰不受充電的影響,不需要特殊的樣品制備。另外,與電子分析相比,熒光X射線的穿透力強(qiáng),可以分析厚涂層下的成分,在涂層應(yīng)用提供用力的幫助,提高生產(chǎn)質(zhì)量,帶動工廠利益的提升。